TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測試儀

EddyCus® TF lab 2020 系列允許在非接觸模式下對導電薄膜進行手動單點測量和薄金屬層的層厚測量。 緊湊的臺式設(shè)備非常適合快速準確地測量最大 200 x 200 mm2（8 x 8 英寸）的樣品。 除了測量薄的導電層外，還可以分析摻雜的晶片和導電聚合物。

亮點

非接觸式實時測量

精確測量導電薄膜

隱藏和封裝導電層的表征

測量數(shù)據(jù)保存和導出功能

特征

薄層電阻

金屬層的厚度測量

單點測量

質(zhì)量控制，輸入和輸出控制

樣品尺寸：10 x 10 mm2 至 200 x 200 mm2（0.5 x 0.5 英寸至 8 x 8 英寸）

測量范圍：0.1 mOhm/sq 至 100 kOhm/sq

應(yīng)用

鍍膜建筑玻璃，例如 LOWE

顯示器、觸摸屏和平板顯示器

OLED和LED應(yīng)用

智能玻璃

石墨烯層

光伏晶片和電池

半導體晶圓

金屬化層和晶圓金屬化

除冰和加熱應(yīng)用

電池電極

導電涂層紙和導電紡織品

TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測試儀分類

EddyCus® TF lab 2020SR – 非接觸式單點薄層電阻測試儀

EddyCus® TF lab 2020MT – 非接觸式單點金屬測厚儀

EddyCus® TF lab 2020A – 非接觸式電氣各向異性和薄層電阻測試儀

EddyCus® TF lab 2020HF – 介電常數(shù)、電導率和磁導率相關(guān)測量任務(wù)的分析儀

EddyCus® TF lab 2020RM – 多功能單點電阻率測試儀